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功能

圖像探測(cè)器可60°傾斜，以獨(dú)特的視角觀察樣品缺陷且對(duì)樣品無(wú)干擾。

光管使用壽命長(zhǎng)，終生免維護(hù)。

可以檢測(cè)低于2.5微米的缺陷，檢測(cè)重復(fù)精度高。

可編輯的檢測(cè)程序，實(shí)現(xiàn)CNC自動(dòng)化檢測(cè)。

檢測(cè)空間大，可容納各種大尺寸的樣品，載物臺(tái)可載重10KG的物品。

超大自動(dòng)導(dǎo)航窗口，鼠標(biāo)點(diǎn)擊即可將載物臺(tái)移動(dòng)到所指位置。

優(yōu)勢(shì)

有效檢測(cè)范圍更大，提高產(chǎn)品的放大倍率以及檢測(cè)效率。

輕易辨別產(chǎn)品側(cè)傾面缺陷，實(shí)現(xiàn)無(wú)死角檢測(cè)

采用全球頂尖日本濱松(HAMAMATSU)X射線源。

可輕易辨別半導(dǎo)體封裝金線彎曲、金線斷裂。

適合大批量檢測(cè)提高檢測(cè)效率自動(dòng)判斷NG產(chǎn)品。

超大載物臺(tái)，可放置超大工控主板、超長(zhǎng)LED燈條、適用于各種領(lǐng)域的電子產(chǎn)品。

操作非常便捷，可以快速找到物品缺陷，提高檢測(cè)效率。